ThermoStream 高低溫沖擊測試機應用

美國 inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的熱測系統研發專家, 產品包含 ThermoStream 高低溫沖擊測試機 (又稱熱風罩, 熱流儀, 冷熱沖擊機), Thermochuck, ThermoSpot 接觸式高低溫測試機和 Thermonics Chillers 制冷機. inTEST 已收購 Thermonics 和 Temptronic.
光通訊芯片溫度測試, 半導體芯片溫度測試是 inTEST 高低溫沖擊測試機典型應用!上海伯東是美國 inTEST 中國總代理

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics

2013 年 inTEST 將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 ThermoStream ATS 系列超高速高低溫沖擊測試機

inTEST 高低溫測試機

如何選擇 inTEST 配套測試腔

inTEST 測試腔體 ThermoChamber™ 可搭配 ThermoStream 高低溫測試機使用, inTEST 設計出多種容易攜帶及更換的測試腔,這也是您使用 inTEST -ATS 高低溫循環試驗機進行溫度測試時理想的搭配工具

inTEST 光通信模塊高低溫測試

高低溫測試機客戶案例: 對應用于光通訊行業的光纖收發器 Transceiver 或 SFP 光模塊進行 -80°C 至 +225°C 的溫度循環測試 Thermal cycle 和溫度沖擊測試 Thermal shock.

inTEST 光通信模塊高低溫測試

inTEST 高低溫測試機車規級芯片測試

高低溫測試機 ATS-545 客戶案例: 車規級芯片高低溫沖擊測試, 國產車載芯片要求在溫度范圍 - 50 ℃~ 150 ℃ 時搭配模擬和混合信號測試儀, 在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項功能是否正常, 使芯片符合汽車安全的電子產品標準

inTEST 搭配 Keysight 進行功率器件溫度測試

高低溫測試機客戶案例: inTEST 搭配 Keysight 進行 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 高低溫測試是半導體器件制造商中比較通用的測試手段.

inTEST 半導體芯片高低溫測試

高低溫測試機客戶案例: thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機聯用, 進行半導體芯片溫度沖擊測試 Thermal shock 和溫度循環測試 Thermal cycle.

inTEST 微處理器芯片高低溫測試

高低溫測試機客戶案例:  搭配 delta design 測試機在 -40 到 125 °C 溫度范圍內, 對微處理器芯片進行高低溫測試, 有效提高了芯片測試的速度和準確性, 快速進行在電工作的電性能測試, 失效分析, 可靠性評估等.

inTEST 集成電路 IC 卡高低溫測試

高低溫測試機客戶案例: 對集成電路 IC 卡進行高低溫測試, 用來模擬集成電路在不同工作環境中的性能

inTEST PCB 板電子芯片高低溫測試

高低溫測試機客戶案例: 對 PCB 板進行高低溫測試, 模擬 PCB 板在氣候環境下操作及儲存的適應性, 已確保其在極端環境下也可正常工作.

inTEST LED 液晶顯示屏高低溫測試

高低溫測試機 ATS-545-T 客戶案例: inTEST 與德國 AUTRONIC DMS 803 液晶顯示屏測量系統聯用進行 LED 液晶顯示屏環境溫度測試, 以進行光學顯示特性和一致性測試的溫度相關測量.

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