氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏
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氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏

氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏
激光芯片是光通信設備的重要組成部分, 具有高回波損耗, 低插入損耗; 高可靠性, 穩定性, 機械耐磨性和抗腐蝕性, 易于操作等特點. 激光芯片在 Box 內封裝, 對密封性的要求極高, 上海伯東客戶某生產激光芯片客戶采購干式氦質譜檢漏儀 ASM 340 D 進行封裝激光芯片的泄漏檢測.

封裝激光芯片需要檢漏: 激光芯片在 Box 內進行封裝, 封裝完成后的激光芯片漏率要求小于 5×10-8mbar.l/s, 如果密封性不夠會影響其使用性能和精度, 因此需要進行泄漏檢測.
氦質譜檢漏儀封裝激光芯片檢漏
封裝激光芯片檢漏方法

激光芯片在 Box 內封裝后, 需要對其本身的密封性進行泄漏測試. 由于封裝激光芯片器件體積小, 且無法抽真空或直接充入氦氣, 上海伯東推薦使用氦質譜檢漏儀“背壓法”檢漏, 具體做法如下:
1. 將被檢封裝激光芯片放入真空保壓罐, 壓力和時間根據漏率大小設定
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2. 取出封裝激光芯片, 使用空氣或氮氣吹掃表面氦氣
3. 將封裝激光芯片放入真空測試罐, 測試罐連接氦質譜檢漏儀進氣口
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4. 啟動氦質譜檢漏儀, 真空模式下, 漏率值設定為 5×10-8mbar.l/s 進行檢漏.

鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解封裝激光芯片檢漏, 請參考以下聯絡方式
上海伯東: 葉小姐                                  臺灣伯東: 王小姐
T: +86-21-5046-3511 ext 109             T: +886-3-567-9508 ext 161
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